fireye離子(zi)探(tan)針(zhen)69ND1-1000K4現貨(huo)銷(xiao)售

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A、自(zi)簽(qian)收貨(huo)物(wu)算(suan)起(qi)7天(tian)內(nei)，如(ru)產品(pin)自(zi)身原(yuan)因(yin)故障，請系(xi)我(wo)們售(shou)後(hou)客(ke)服(fu)咨(zi)詢。發回(hui)我(wo)司檢測屬實，我(wo)司承(cheng)擔保(bao)換(huan)或保修，並(bing)由我(wo)司承(cheng)擔寄回給您(nin)的(de)運(yun)費(fei)。超過(guo)7天(tian)，來回(hui)運(yun)費需(xu)由您(nin)承(cheng)擔；B、退換(huan)的(de)產品(pin)，必(bi)須包裝(zhuang)及配件完好(hao)、齊(qi)全(quan)，不(bu)影(ying)響第(di)二次銷(xiao)售(shou)；C、所有(you)返修產品(pin)，由您(nin)支(zhi)付返廠(chang)（返店(dian)）運(yun)費，收到貨後(hou)我(wo)們客(ke)服(fu)會(hui)與(yu)您(nin)跟進(jin)系(xi)。任何(he)到付件，壹律拒(ju)收(shou)退回；產品(pin)說(shuo)明(ming)：
離子(zi)探(tan)針(zhen)(IMA)的(de)基本(ben)原(yuan)理是，用(yong)高能(neng)負(fu)氧(yang)離子(zi)轟擊樣品(pin)表(biao)面，測(ce)定(ding)被(bei)飛(fei)濺(jian)活(huo)化(hua)出(chu)來並(bing)發生電(dian)離的(de)原(yuan)子(zi)（即離子(zi)）的(de)同(tong)位素(su)組(zu)成，以獲(huo)得(de)年(nian)齡(ling)。為壹種得(de)到迅猛(meng)發展的(de)新(xin)型(xing)質譜(pu)計，它(ta)具(ju)有(you)許多其他測年(nian)方法所沒(mei)有(you)的(de)優(you)點(dian)：不(bu)需(xu)要(yao)化(hua)學(xue)處(chu)理；具有(you)高(gao)的(de)分(fen)辨率，可同(tong)時(shi)獲(huo)得(de)幾組(zu)年(nian)齡(ling)以確定(ding)被測對(dui)象(xiang)同(tong)位素(su)體系(xi)是否(fou)封閉(bi)，有(you)無(wu)鉛丟(diu)失；可(ke)對樣品(pin)作(zuo)微區（約(yue)20微米）分(fen)析而(er)基本(ben)不(bu)破(po)壞樣品(pin)，故(gu)可獲(huo)得(de)礦物(wu)內部年(nian)齡(ling)分(fen)布的(de)精(jing)細(xi)結構(gou)，這(zhe)對(dui)了(le)解具有(you)復(fu)雜(za)歷(li)史礦(kuang)物(wu)的(de)形(xing)成過(guo)程(cheng)及由此反映(ying)的(de)地(di)質(zhi)演化(hua)十(shi)分(fen)重要(yao)；測(ce)年(nian)對(dui)象(xiang)的(de)時(shi)代跨(kua)度(du)很大，從(cong)不(bu)到100百萬(wan)年(nian)到40億年(nian)以上，地(di)球上(shang)幾乎所有(you)最(zui)古老巖(yan)石(shi)和鋯(gao)石(shi)的(de)準確定(ding)年(nian)都(dou)是(shi)由這(zhe)壹方法完成的(de)。所測礦物(wu)主要(yao)為、鈦(tai)鐵(tie)礦(kuang)等(deng)含U、Th礦(kuang)物(wu)的(de)測(ce)年(nian)研(yan)究(jiu)受(shou)到重視(shi)InSight探(tan)頭(tou)測量目(mu)標(biao)火焰(yan)產生的(de)調(tiao)制振(zhen)幅(fu)。在(zai)探(tan)頭(tou)的(de)設定程(cheng)序中，選(xuan)擇(ze)產生佳(jia)火焰(yan)ON/OFF分(fen)辨率的(de)頻率。並(bing)可(ke)手動調(tiao)節（S1型(xing)）或越過(guo)手動調(tiao)節進(jin)行(xing)自(zi)動調(tiao)節合適的(de)調(tiao)制頻率和探(tan)頭(tou)增益（S2型(xing)）。
fireye離子(zi)探(tan)針(zhen)69ND1-1000K4現貨(huo)銷(xiao)售選(xuan)定(ding)了火(huo)焰(yan)頻率後，輸(shu)入(ru)火(huo)焰(yan)繼(ji)電(dian)器(qi)的(de)ON/OFF門檻值。在(zai)4－20mA的(de)信號強(qiang)度(du)輸(shu)出(chu)中(zhong)，最(zui)小(xiao)值（4mA）代(dai)表信號強(qiang)度(du)為“0”，最(zui)大值（20mA）代(dai)表信號強(qiang)度(du)為“100”。
火(huo)焰(yan)繼(ji)電(dian)器(qi)   當信號強(qiang)度(du)達(da)到或已超過(guo)已設定的(de)火(huo)焰(yan)“ON”的(de)門檻值是(shi)被激勵得(de)電（常開(kai)觸點(dian)閉(bi)合），當型(xing)號強(qiang)度(du)達(da)到並(bing)低於(yu)已設定的(de)火(huo)焰(yan)“OFF”門檻值時(shi)，繼(ji)電(dian)器(qi)失電(dian)（閉(bi)合觸點(dian)打(da)開(kai)）。當供(gong)電(dian)中斷(duan)或(huo)檢(jian)測(ce)到內部故障時(shi)，繼(ji)電(dian)器(qi)回路(lu)也會(hui)打(da)開(kai)。
故障繼(ji)電(dian)器(qi)   當探(tan)頭(tou)正常供(gong)電(dian)（24vdc）和探(tan)頭(tou)內部通過(guo)自己無(wu)誤(wu)時(shi)被激勵得(de)電。當供(gong)電(dian)中斷(duan)或(huo)內(nei)部檢測(ce)到故障時(shi)失電。壹個(ge)常開(kai)觸點(dian)信號（來自(zi)故(gu)障繼(ji)電(dian)器(qi)）被串(chuan)接到火焰(yan)繼(ji)電(dian)器(qi)的(de)內(nei)部，壹個(ge)常閉(bi)觸(chu)點(dian)信號由於(yu)報警顯示(shi)。
Type95IR設有(you)壹個(ge)紅(hong)外火(huo)焰(yan)傳(chuan)感器(qi)，對紅(hong)外線(xian)波長的(de)相(xiang)應(ying)範(fan)圍(wei)是(shi)700到1700nm。此型(xing)號適用於(yu)燃料是煤和油(you)的(de)工(gong)況(kuang)。
Type95UV設有(you)壹個(ge)紫外火(huo)焰(yan)傳(chuan)感器(qi)，對紫外線(xian)的(de)波長相(xiang)應(ying)範(fan)圍(wei)是(shi)295到320nm。此型(xing)號適用於(yu)燃料是氣的(de)工(gong)況(kuang)。
Type95DS同(tong)時(shi)設有(you)以上所描述的(de)紅(hong)外和紫外傳(chuan)感器(qi)。此型(xing)號適用於(yu)多種(zhong)燃料的(de)工(gong)況(kuang)。
標(biao)準型(xing)S1適用於(yu)不需(xu)要(yao)高(gao)分(fen)辨率或者不(bu)需(xu)要(yao)擴(kuo)展型(xing)S2所具有(you)的(de)遠(yuan)程(cheng)通訊功能(neng)的(de)多(duo)種(zhong)場(chang)合。（例如單(dan)燃燒(shao)器(qi)鍋(guo)爐和工(gong)業(ye)爐(lu)等(deng)）擴(kuo)展型(xing)S2適用於(yu)需要(yao)有(you)最(zui)高分(fen)辨率和最(zui)高靈活(huo)性(xing)(增加火焰(yan)頻率的(de)選(xuan)擇(ze)，省(sheng)時(shi)自動調(tiao)節功(gong)能(neng)）和遠(yuan)程(cheng)通訊能力(li)的(de)場(chang)合（例如大型(xing)多燃燒(shao)器(qi)鍋(guo)爐和工(gong)業(ye)爐(lu)）離子(zi)探(tan)針(zhen)是用(yong)聚焦(jiao)的(de)壹次離子(zi)束(shu)作為微探(tan)針(zhen)轟擊樣品(pin)表(biao)面，測(ce)射(she)出(chu)原(yuan)子(zi)及分(fen)子(zi)的(de)二(er)次(ci)離子(zi)，在磁場(chang)中(zhong)按質(zhi)荷(he)比(bi)（m/e）分(fen)開(kai)，可獲(huo)得(de)材料微區質(zhi)譜(pu)圖譜(pu)及離子(zi)圖像，再通(tong)過(guo)分(fen)析計(ji)算(suan)求(qiu)得(de)元(yuan)素的(de)定(ding)性(xing)和定量信息(xi)。測(ce)試(shi)前對(dui)不同(tong)種(zhong)類的(de)樣品(pin)須(xu)作不(bu)同(tong)制(zhi)備(bei)，離子(zi)探(tan)針(zhen)兼有(you)電(dian)子(zi)探(tan)針(zhen)、火花(hua)型(xing)質譜(pu)儀的(de)特(te)點(dian)。可(ke)以探(tan)測(ce)電子(zi)探(tan)針(zhen)顯微分(fen)析方法檢(jian)測極(ji)限(xian)以下(xia)的(de)微量元(yuan)素，研(yan)究其局(ju)部分(fen)布和偏析。可以作為同(tong)位素(su)分(fen)析。可(ke)以分(fen)析極(ji)薄(bo)表面層和表面吸(xi)附(fu)物(wu)，表面分(fen)析時(shi)可以進行(xing)縱(zong)向(xiang)的(de)濃(nong)度分(fen)析。成像離子(zi)探(tan)針(zhen)適用於(yu)許多不同(tong)類型(xing)的(de)樣品(pin)分(fen)析，包括(kuo)金(jin)屬樣品(pin)、半導體器(qi)件、非導體樣品(pin)，如(ru)高聚物(wu)和玻璃產品(pin)等(deng)。廣(guang)泛應用於(yu)金屬、半導體、催(cui)化(hua)劑(ji)、表面、薄(bo)膜(mo)等(deng)領(ling)域(yu)中(zhong)以及環保科學(xue)、空間(jian)科學(xue)和生物(wu)化(hua)學(xue)等(deng)研(yan)究部門。

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